关于准备透射电子显微镜

透射电子显微镜(TEM)是一个一束电子显微镜技术在传播通过一个超薄标本,通过它与标本进行交互。

如何
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超薄的标本

标本通常由一个3.0毫米直径磁盘的材料已经准备这一部分足够薄,允许电子束穿透完全通过。

最大容许厚度随占样品的元素(原子序数的元素更能传达的)高、光束加速电压(高加速电压提高光束穿透),但它通常在一百到几百纳米的范围。

标本变薄的各种方法,包括:

机械切割和研磨(用于样品制备的初步步骤)
电解抛光(通常用于最终变薄的金属)
离子铣(使用金属和绝缘材料)爱游戏信誉

是至关重要的任何损坏层期间推出的初步机械准备完全移除在随后的电解抛光或离子铣。

最终变薄一直持续到一个洞第一盘的中心附近的形式;然后电解抛光或离子铣削过程立即停止。薄的锥形部分材料相邻孔经常薄足以电子透明。

如果电解抛光或离子铣持续太久,薄电子透明部分相邻孔将被删除,剩下的材料可能太厚渗透的电子束。

如何准备透射电子显微镜吗

机械切割和抛光

标本必须切成一小块和地面和/或抛光到一定的厚度,通常一些几百微米。

切割过程中可以通过使用Struers切削机。精密切割机Accutom-10 / -100或Secotom-15 / -50等建议。可以使用任何Struers研磨或抛光机;机器等单一样本或手动准备LaboSystem或Tegramin推荐。样品可以地面和/或抛光到一定的厚度。AccuStop等配件,或与特殊AccuStop-T TEM-preparation插入,也可以使用。

电解抛光

电解抛光可用于pre-thinning标本所需的厚度,使用LectroPol-5或TenuPol-5 pre-thinning持有人。

最后准备阶段需要非常精确的和敏感的抛光,使用诸如TenuPol-5电解抛光机。TenuPol-5可以用来准备一个多孔试样的透射电子显微镜在几分钟内使用一个示例3.0或2.3毫米直径。

TenuPol-5是专为自动电解稀释标本进行透射电子显微镜检查。12-21毫米直径的基本材料是pre-thinned厚度小于0.5毫米的直径10 mm,使用一个特殊的样品夹。