微电子的金相制备
由于微电子元件的尺寸和复杂性,制备用于金相分析的微电子元件具有挑战性。本指南概述了确保在微电子样品中有效和准确的受控材料去除所需的特殊技术和设备,并具有可重复的结果。
下载完整的申请说明
由于微电子元件的尺寸和复杂性,制备用于金相分析的微电子元件具有挑战性。本指南概述了确保在微电子样品中有效和准确的受控材料去除所需的特殊技术和设备,并具有可重复的结果。
下载完整的申请说明
图1:导线、电阻、通孔和电容在中心的线性集成电路的细节
图2:带有集成电路导电引线的硅片截面
图3:安装在PCB上的组件
由于微电子元件的尺寸和复杂性,制备用于金相分析的微电子元件极具挑战性。因此,在受控材料去除过程中,需要特殊的制备技术和设备来确保正确的精度水平。
图4:微电子元件中的材料组成示例
图5:多层电容(1)焊接到电路板(2)的铜金属化上;疲劳裂纹(3)在焊料中不断传播
图6 a和b:陶瓷与铜在高倍镜下显示不同的平面度:a)初始用碳化硅箔/纸细磨;B)对金刚石进行初始细磨MD-Largo细研磨盘
从材料学的角度来看,微电子可以分为三类样品。
硅晶片
半导体硅片的性能与其材料的微观结构和化学成分密切相关。因此,硅片的材料学分析在电子元器件的开发和质量控制中都具有重要意义。
通过受控的材料去除,圆柱形硅锭薄片进行材料学制备,用于分析,通常使用红外(IR)显微镜和傅里叶变换红外(FTIR)光谱。经过精确的材料学抛光后,对硅晶圆的平行或横截面进行非封装形式的检查。集成电路的细节是在光学显微镜或电子显微镜下研究的,这取决于分析的规模和类型。
集成电路(ic)及其组件
每个晶圆封装在紧凑的ic或组件中,使用不同的互连和涂层技术。这些微小和高度复杂的微电子元件的材料截面用于开发、设计、生产抽查和故障分析。检查的目的是查看裂纹、空洞、焊锡球、导电和隔离层、连接等。
金相检查通常集中在包装内部的特定区域。因此,可控材料去除被用来识别和揭示这个目标。离散元件,如电容器,电阻等,也要进行材料学检查,以分析几何和微观结构的缺陷。
印刷电路板(pcb)
pcb由环氧树脂/玻璃纤维或陶瓷基板、镀铜金属层和镀孔(也称为“通孔”)组成。
进行PCB材料的样品制备,以帮助定位基板材料中的缺陷爱游戏信誉。根据领先的行业标准,pcb镀通板的质量必须进行材料学检查。为此目的,生产和准备了一个测试优惠券,以便镀通孔的中心可以使用显微镜检查。此外,通常在横截面上研究连接、涂层相干性和厚度。
图7:二极管裂纹的检测
图8:焊接处有疲劳裂纹的老化陶瓷多层电容器的贯通截面
图9:镀通孔连接焊料处的大空洞(50 x)
图10:镀通孔焊锡连接处的空洞和裂纹(200 x)
图11:DIC焊锡球截面
根据微电子元件的尺寸和所需样品数量的不同,研磨抛光方法有手动、半自动和全自动三种。
避免用硬质磨料进行平面磨削,因为这样会损坏脆性材料并使软金属变形。爱游戏信誉
图12:粗磨SiC箔/纸引起的玻璃二极管裂纹和断裂损伤
步骤1
要获得良好的平整度,可在硬质圆盘上用金刚石细磨(MD-Largo),而不是继续磨磨蹭蹭碳化硅箔/纸.
步骤2
为了保持研磨后的平整度,在丝绸上使用钻石抛光剂。如果有磨料颗粒嵌入软金属,继续钻石抛光,直到这些去除。
步骤3
最后用胶体二氧化硅(OP-U NonDry),但要尽量简短,以免松一口气。
图13:因材料硬度不同而产生的抛光效果爱游戏信誉
图14:焊料中的金刚石颗粒
对于半自动控制的材料去除,使用碳化硅箔/纸。我们建议对安装和未安装的微电子元件使用特殊的样品支架,如AccuStop或AccuStop-T.一旦几个样品已经研磨到大约50 μ m之前的目标,从AccuStop将它们单独放置在半自动研磨机中进行精磨抛光。
表1:微电子元件的制备方法,安装,30毫米直径。
我们建议使用自动机器,如TargetSystem用于完全自动化的控制材料去除过程。整个准备过程,包括切割,需要45-60分钟。
TargetSystem在准备之前对样品进行校准和测量,然后自动研磨和抛光,使用视频对可见目标和x射线对隐藏目标。它可用于安装和卸载样品的横截面和平行截面的可控材料去除,精度为±5 μm。
图15:用于定位和测量可见目标的Target-Z视频
图16:带有隐藏目标的样品x射线
图17:有可见目标的样品,用视频显示
图18:支架与样品指示距离,自动测量和计算
表2:微电子元件靶制备的制备方法
所有图片由Kelsey Torboli提供,应用工程师,美国
关于微电子的金相制备的具体信息,联系我们的应用程序专家.