关于微电子
从材料学的角度来看,微电子可以分为三种类型的样品:
- 硅晶片
- 集成电路(IC)及其元件
- 印刷电路板(pcb)
从材料学的角度来看,微电子可以分为三种类型的样品:
圆柱形硅锭的薄片经过材料学制备,通常用ir显微镜和FTIR光谱学进行分析。
晶圆制造包括许多重复的过程,在晶圆基片表面生产完整的集成电子电路,然后切割成单个晶圆骰子。
对未封装晶圆片的微小平行或横截面的检查是在精确的材料学抛光后完成的。集成电路的细节是在光学显微镜或电子显微镜下研究的,这取决于分析的尺度和类型。
圆柱形硅锭的薄片经过材料学制备,通常用ir显微镜和FTIR光谱学进行分析。
晶圆制造包括许多重复的过程,在晶圆基片表面生产完整的集成电子电路,然后切割成单个晶圆骰子。对未封装晶圆片的微小平行或横截面的检查是在精确的材料学抛光后完成的。集成电路的细节是在光学显微镜或电子显微镜下研究的,这取决于分析的尺度和类型。
1.微型维度需要适合处理小样品的专用设备和附件。在材料学过程中,如切割和研磨,对尺寸在µm范围内定义的样品的精度要求也更加明显。
2.复合材料复合材料在微电子学中很常见,其中软金属、陶瓷和复合材料通常紧密地包裹在一起。这使得制备方法和参数的选择是一种妥协,仔细选择以满足特定的要求。
3.控制和精确的准备当考试的科目是小的目标时,是需要的。具有高机械精度的解决方案,光学测量单元和机械停止是现代自动化或更基本的研磨和观察技术的优化解决方案。
根据需要调查的样品种类,切割可以在各种精密切割机上进行。
推荐使用用于切割塑料的电镀金刚石轮或树脂结合剂金刚石轮。
在任何情况下,切口应该放置在距离实际观察区域足够远的地方,以避免可能的直接损伤。剩下的材料可以在切片后小心地磨掉。这一初始步骤执行得越仔细,就越不可能在陶瓷、芯片和玻璃中引入裂纹,或导致层或焊点分层。
在提取PCB样板时,使用专用的取样设备。自动化和光学测量技术可以实现高精度的钻孔和点阵。对于敏感或小的样品,建议在切割前浸渍样品。
冷安装树脂,具有较低的固化温度,建议避免热对焊料和聚合物的影响。对于小的或脆的样品,如硅片,低收缩率的树脂是首选,以减少裂缝的风险。
安装方法因所使用的分析方法而异。
对于专用系统,组件可以直接安装在特殊样品支架上,例如,用于通过检验或目标制备。
对于手工和半自动的微电子研磨和抛光,可以使用常规设备。校准样品和控制材料的去除是由特殊的样品支架保证的,作为一个更精确的替代手工研磨和观察方法。
薄而脆的硅晶圆的平行和横截面,铅或锡的焊锡球阵列,在脆性陶瓷或韧性聚合物基板上镀铜通孔的pcb,以及几百微米内硅、陶瓷、金、铜、铝和锡的ic横截面,都是在选择研磨和抛光方法时需要考虑的材料组合例子。
对去除率、平面度、浮雕度、边缘保留和涂抹的要求往往决定了研磨和抛光表面和悬浮液的选择。在电子元器件e-Metalog中发现了大约25种专用方法,涵盖了广泛的材料组合和制备要求。爱游戏信誉